利用15N(d,p)16N反应研究16F低能级质子宽度

摘要：

16F是质子滴线附近的奇特原子核,它的所有态均不稳定,会发生质子衰变.目前16F前4个态的自旋宇称及激发能已通过实验精确测定,但能级宽度仍存在较大分歧.本工作通过15N(d,p)16N反应角分布的高精度测量,确定了 16N基态和前3个激发态的谱因子;进而根据镜像核的电荷对称性,用16N的中子谱因子导出了 16F基态和前3 个激发态的质子宽度分别为(29.9±4.1)keV、(108±13)keV、(5.04±0.48)keV和(14.5±1.4)keV.本工作通过一个独立的实验方法为16F的质子宽度提供了一个重要的交叉检验.

关键词：转移反应、角分布、谱因子、质子宽度

所属期刊栏目：55

分类号：O571(原子核物理学、高能物理学)

资助基金：国家重点研发计划资助项目;国家自然科学基金资助项目;财政部稳定支持研究经费资助项目

在线出版日期：2021-03-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：391-396