基于伴随粒子的快中子成像系统角分辨研究

摘要：

不同于传统的快中子成像系统,采用伴随粒子成像技术无需机械准直即可消除大部分γ射线和散射中子的干扰,实现对厚重物体的高对比度成像.角分辨是影响系统成像质量的一项重要参数.通过理论分析,研究了入射离子的初始动量、靶点尺寸和探测器空间分辨等多个因素对系统角分辨的影响.利用基于GEANT4的模拟程序,计算了不同参数下被标记中子出射角分布的二维图像.分析及模拟结果表明,靶点直径和α探测器空间分辨率是影响角分辨的重要因素.为满足系统角分辨小于1°的设计目标,入射离子的初始动量变化范围应较小,靶点直径应小于1 mm,同时α探测器的空间分辨率应小于0.5 mm.

关键词：伴随粒子、角分辨、快中子成像、α探测器

所属期刊栏目：54

分类号：TL81(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)

资助基金：中央高校基本科研业务费专项资金资助项目2017MS040;国家自然科学基金资助项目11805066

在线出版日期：2020-05-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：850-856