CsI(Na)闪烁薄膜对重带电粒子时间响应实验研究
为发展具有粒子甄别能力的空间带电粒子辐射场测量的闪烁探测技术,本文采用单光子计数方法测量了片状CsI(Na)晶体在质子、锂离子和氧离子激发下的衰减时间曲线,结合CsI(Na)对脉冲X射线瞬态响应的波形分析,结果表明,CsI(Na)晶体对质子、重带电粒子和电子展示出完全不同的衰减时间特征。基于CsI(Na)材料的闪烁探测器在电流型计数模式下可望实现对高能电子、质子和重离子的分辨,从而为其用于空间辐射场测量的信号波形甄别奠定基础。
CsI(Na)薄膜、粒子分辨、衰减时间、空间辐射探测
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TL812(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)
2017-03-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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