负电子亲和势砷化镓光阴极热发射度测量
作为未来高平均功率、高亮度电子源的重要材料之一,负电子亲和势砷化镓(NEA‐GaAs)光阴极发射的电子束亮度一直以来都是国际上的研究热点。热发射度是电子束能够实现的发射度下限,测量热发射度有利于确定注入器能否提供高亮度的电子束。本文理论计算了 NEA‐GaAs光阴极热发射度数值范围,并基于中国工程物理研究院自由电子激光相干强太赫兹源(FEL‐T Hz )装置,在28 fC的极低电荷量下,采用螺线管扫描法初步测量了NEA‐GaAs光阴极的热发射度。结果显示,NEA‐GaAs光阴极的热发射度为(0.603±0.002)μm/m m。
热发射度、砷化镓光阴极、高压直流电子枪、螺线管扫描法
TL53;O462.3(加速器)
国家自然科学基金资助项目11305165,11475159,11505173,11575264;国家重大科学仪器设备开发专项资助项目2011YQ130018;中国工程物理研究院发展基金资助项目2014B0402069,2014B0402070
2015-11-02(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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