12C3＋离子束在 HIRFL-CSRe 上的初步电子冷却调试

摘要：

非全裸离子在储存环内冷却储存时主要通过碰撞离化和辐射电子俘获进行损失。兰州重离子加速器（HIRFL）实验环（CSRe）调束发现，能量为122 MeV／u的12 C3＋离子束注入到CSRe后的存储寿命仅为6.6 s ，且电子冷却效果不明显。本文结合CSRe真空条件计算了12 C3＋离子束的存储寿命及其电子冷却时间，确定了CSRe平均真空度为10－8 Pa量级是导致非全裸的12 C3＋离子束存储寿命减小的主要原因，而电子冷却作用及辐射电子俘获引起的12 C3＋离子束损失被12 C3＋离子束与残余气体碰撞离化损失所掩盖，即12 C3＋离子束在未被完全冷却前便由于存储寿命过短而近乎全部损失。这解释了CSRe初步电子冷却调试中12 C3＋离子束快速损失的主要原因。

关键词：电子冷却、离化损失、残余气体、离子储存环

分类号：TL56(加速器)

资助基金：国家自然科学基金资助项目11475235，11375245

在线出版日期：2015-11-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：597-600