高钚含量样品中α能谱法分析237Np的可行性研究

摘要：

通过对244 Cm的α实验谱进行拟合得到单能峰的峰形参数，采用随机抽样技术表征谱计数的统计涨落，建立了一种模拟半导体α能谱的方法。利用该方法模拟238 Pu和243 Am的α能谱，与实验谱基本吻合，证明了方法的可靠性。在此基础上，研究了239 Pu对237 N p的α能峰的影响，结果表明，当239 Pu与237Np的活度比 A（239Pu）／A（237Np）≤10时，通过解谱得到的 A（239Pu）／A（237Np）与设定值的相对偏差≤2.0％。对于 A（239 Pu）／A（237 Np）约为3000的样品，如果对钚的去污系数达到300以上，则可由α能谱法测量样品中的237 N p。

关键词：半导体α能谱、能谱模拟、239 Pu、237 N p

分类号：TL817.2(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)

在线出版日期：2015-11-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1888-1892