X 射线测厚仪刻度校正模型的研究

摘要：

本文提出了新的模型来描述X射线测厚仪中射线在穿过被测物质时的衰减规律。利用已知厚度的若干标定片的实测数据点，针对不同数据点数量、不同数据点分布等多种情况，对比此模型和其他文献中的刻度校正模型。结果表明，由此模型计算的衰减曲线与实验数据符合良好，且当标定数据点数量减少及分布改变时，此模型仍具有较高的精度，误差的稳定性超过其他模型。

关键词：X射线、测厚仪、刻度校正、衰减模型

分类号：TL364.5(核反应堆工程)

在线出版日期：2014-06-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：925-929