利用高能缓发γ射线测定裂变数

摘要：

利用裂变产额法得到短时间辐照235U样品的裂变总数,通过大体积NaI探测器测量3 MeV以上高能缓发γ射线总计数随时间的变化,从而得到一次裂变3 MeV以上高能缓发γ射线总发射率随时间的变化规律,并给出脉冲辐照下高能缓发γ射线的发射率.通过高能缓发γ射线测量了两块235 U样品的裂变数,其相对不确定度小于4％.

关键词：缓发γ射线、裂变数、NaI探测器

所属期刊栏目：47

分类号：TL816(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)

在线出版日期：2013-07-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：517-522