基于63Ni辐伏同位素电池原型封装可靠性研究

摘要：

以加载有63Ni源片的GD3217Y型探测器为处理件,在完成对封装材料的配方选择、灌注工艺、流程的制定并得到具有较好工艺性的灌注条件的基础上,分别对原件、加载不锈钢圆片器件、加载电镀8.14×107 Bq63Ni不锈钢圆片器件进行非放、放射灌注封装.在对灌件可靠性进行检测的基础上,着重考察了原件、无/加载不锈钢圆片灌件、加载电镀8.14×107 Bq63Ni不锈钢圆片灌件封装前后、自然老化及人工加速老化后电学输出特性,即考察在63Ni源持续辐照下,灌料、63Ni源、不锈钢片、芯片以及其他部件构成的体系内部之间相互作用关系,即封装件特殊要求——屏蔽性、时效性.研究结果表明,对以上结构的GD3217Y型探测器组件采用该种封装方式后除改善探测器组件的环境适应性,特别是在保证放射源使用安全性的基础上具有较为稳定的电学输出性能,这为辐伏效应同位素电池封装提供了参考.

关键词：GD3217Y型探测器、灌注、自然老化、加速老化、电学性能

所属期刊栏目：46

分类号：TL814;TB42(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)

在线出版日期：2012-06-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：375-379