应用蒙特卡罗方法表征HPGe探测器

摘要：

采用蒙特卡罗方法计算HPGe探测器对光子的探测效率,需对计算模型参数进行确定.使用蒙特卡罗模拟计算和实验测量相结合的方法,对晶体死层厚度及冷指尺寸进行了表征.结果表明,使用此方法确定晶体参数模拟光子的探测效率,在59.54～I 408.1 keY光子能量范围内,计算效率与实测效率相对偏差在5％以内,并进行了实验验证.

关键词：蒙特卡罗方法、HPGe探测器、探测效率

所属期刊栏目：45

分类号：TL84(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)

在线出版日期：2012-03-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：1266-1269