X射线荧光分析原级能谱分布的MCNP模拟
X射线荧光分析中,入射激发能谱是影响元素特征荧光强度大小的直接因素.本文使用MCNP程序模拟不同条件下电子打靶后的X射线能谱分布,计算结果能够反映不同条件下特征谱线和连续谱线的特点.模拟能谱数据可用于X射线荧光分析的数据处理.
X射线荧光分析、蒙特卡罗方法、MCNP、能谱分布
44
O434.13(光学)
国家自然科学基金资助项目10805032
2011-01-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
496-499
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X射线荧光分析、蒙特卡罗方法、MCNP、能谱分布
44
O434.13(光学)
国家自然科学基金资助项目10805032
2011-01-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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