硅胶表面季铵功能化接枝过程的29Si CP/MS NMR和XPS法研究
本工作采用29Si CP/MS NMR和XPS测试方法对硅胶表面接枝季铵功能基团的过程和机理进行了分析.XPS光谱分析结果表明,硅基季铵化产品的XPS谱中含有Si、O、C、N元素,并出现了以R4N+形式存在的401.26 eV结合能峰,表明硅胶表面已被季铵化.TGA-DTA分析其接枝率为0.46 mmol/g,同时,本工作采用29Si CP/MS NMR法对接枝机理进行探索研究,得出了接枝的可能反应途径和产品分子结构.
季铵盐、硅基、29Si CP/MS NMR、XPS
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O615.11(无机化学)
2011-01-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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