裂变气体核素γ射线效率刻度中的自吸收校正
针对裂变气体核素HPGe探测器效率刻度中的自吸收校正问题,本工作详细描述了源盒、探测器和源物质等计算中需要的参数,按照实际的几何布局建立了HPGe探测器效率的蒙特卡罗计算模型,并编制了相应计算程序.计算模型可靠性得到实验数据的验证,用该模型计算了裂变气体核素在不同源介质下的探测效率,得到了相应的自吸收校正因子.
蒙特卡罗方法、HPGe探测器、探测效率、自吸收校正
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TL817.2(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)
2011-01-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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