几套就地HPGe γ谱仪系统的死时间修正
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

几套就地HPGe γ谱仪系统的死时间修正

引用
用强源干扰法实验研究了几套就地HPGe γ谱仪系统的死时间修正问题,得到了在不同百分死时间下的修正因子,拟合获得了修正函数,并与谱仪系统的自动修正结果进行了比较分析.结果显示:在实验所控制的死时间范围内,死时间与修正因子间呈线性关系;谱仪系统自动修正结果与实验修正值间的最大相对偏差小于4.4%.这说明,在1.13%~52.95%死时间范围内,这几套谱仪系统的死时间自动修正结果是准确的,也表明现代γ谱仪系统死时间修正技术是有效的,可应用于数据分析中.

就地HPGeγ谱仪系统、死时间修正、强源干扰法、自动修正

44

TL81(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)

2010-07-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共6页

589-594

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

原子能科学技术

1000-6931

11-2044/TL

44

2010,44(5)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn