Altera SRAM型现场可编程门阵列总剂量辐射效应

摘要：

通过比较不同模块的输出波形、不同源程序的功耗电流以及输出端口的高、低电平随总剂量的变化关系,研究了Altera SRAM型现场可编程门阵列(FPGA)器件在~(60)Co γ源辐照下的总剂量辐射效应.实验结果表明:器件的功能和功耗电流随总剂量的变化不同;不同模块随总剂量的变化关系相似,不同源程序的功耗电流随总剂量的变化趋势一致;总剂量辐照实验时功耗电流可作为判断器件失效的1个敏感参数.

关键词：SRAM型现场可编程门阵列、(60)Coγ源、总剂量效应、辐射

所属期刊栏目：43

分类号：V520;TN47(航天术)

在线出版日期：2010-03-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1128-1132