ZnO:Ga晶体对质子的响应
对ZnO:Ga晶体进行质子辐照实验研究,得到对脉冲质子的响应波形和发光强度随质子能量的变化关系,并对实验现象和结果进行了分析.结果表明,该晶体对质子束具有很好的响应特性,与快速光电探测器相结合,可作为反冲质子探测元件,用于脉冲中子探测.
ZnO:Ga、无机晶体、质子辐照、响应波形
43
TL816;O739(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)
2009-11-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
848-850
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ZnO:Ga、无机晶体、质子辐照、响应波形
43
TL816;O739(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)
2009-11-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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