空间轨道单粒子翻转率预估的小样本法
通过对半导体器件翻转截面与重离子LET值的关系曲线的拟合,结合FOM方法和具体空间轨道环境,在Bayes理论的基础上,提出了小样本情况下预估同类半导体器件在空间轨道上的单粒子翻转率的新方法.应用该方法,预估了小样本情况下同一批次器件在空间轨道上的单粒子翻转率及一定置信度下的翻转率预估区间.
半导体器件、单粒子翻转率、Bayes理论、小样本
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TN4;TL99(微电子学、集成电路(IC))
教育部新世纪优秀人才支持计划NCET040926
2009-04-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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