全超导托卡马克装置欧姆放电逃逸电子行为研究

摘要：

电子发生逃逸在托卡马克等离子体中是较常见的现象,特别是在等离子体破裂阶段,会产生大量的逃逸电子.本工作利用硬X射线监测系统,并结合其它相关诊断系统研究世界上第1个运行的全超导托卡马克(EAST)装置在欧姆放电的不同阶段逃逸电子的行为.研究结果表明:在欧姆放电起始阶段,逃逸电子的初级产生过程占主导地位.随着放电的进行,逃逸电子的次级雪崩过程逐渐增长,在放电后期一直到等离子体破裂阶段,雪崩过程将占据主导地位.等离子体破裂后,因存在较高的环电压而产生了高能逃逸电子拖尾.

关键词：逃逸电子、硬X射线、破裂、电子雪崩

所属期刊栏目：43

分类号：O536;O532(等离子体物理学)

资助基金：国家自然科学基金资助项目10675124;JSPS-CAS Core-University Program资助项目

在线出版日期：2009-04-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：22-26