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光电耦合器的单粒子瞬态脉冲效应研究

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利用脉冲激光模拟单粒子效应实验装置研究光电耦合器HCPL-5231和HP6N134的单粒子瞬态脉冲(SET)效应.实验获得了相关器件的单粒子瞬态脉冲波形参数与等效LET的关系,并甄别出器件SET效应的敏感位置,初步分析了SET效应产生的机理.利用脉冲激光测试了光电耦合器的SET宽度与等效LET的关系,并尝试测试了两种光电耦合器的SET效应的截面,其中,HCPL-5231的实验结果与其他文献利用重离子加速器得到的数据符合较好,验证了脉冲激光测试器件单粒子效应的有效性.

脉冲激光、单粒子瞬态脉冲、光电耦合器、等效LET

42

TN4(微电子学、集成电路(IC))

中国科学院知识创新工程青年基金资助项目O82111A17S

2008-12-29(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

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原子能科学技术

1000-6931

11-2044/TL

42

2008,42(z1)

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