内充气正比计数管测量 37 Ar 活度中壁效应的理论研究

摘要：

通过分析37 Ar 衰变产生的X射线和俄歇电子在内充气正比计数管灵敏体积中的逃逸及计数管在37 Ar 活度测量中的壁效应,得出X射线在正比计数管中的逃逸是产生壁效应的主要原因,提出了压力指数外推方法.使用MCNP模拟X射线和俄歇电子在内充气正比计数管中的输运,模拟结果与理论分析结论一致.比较模拟得出的壁效应值与实验测量的壁效应值可知,实验给出的壁效应值是可信的.本工作的研究结果为37 Ar 测量方法提供了理论支持.

关键词：37Ar、内充气正比计数管、探测效率、壁效应、MCNP程序

所属期刊栏目：42

分类号：TL811.2(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)

在线出版日期：2009-03-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1077-1081