层析γ扫描中的探测效率刻度
探测效率刻度技术是层析γ扫描测量中最重要的技术之一.本工作研究用蒙特卡罗方法刻度层析γ扫描系统探测效率的方法.对3×3×3体素组成的样品模型,用蒙特卡罗软件计算了层析γ扫描测量装置的探测效率矩阵.在实验室层析γ扫描原型装置上,实验研究了层析γ扫描测量装置的探测效率.对两者进行了比较,相对偏差绝对值小于5%.研究结果表明了蒙特卡罗方法刻度层析γ扫描测量装置探测效率的可行性.
层析γ扫描、探测效率刻度、Monte-Carlo方法
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O572(原子核物理学、高能物理学)
第二炮兵工程学院科技创新基金资助项目XY2007JJ06
2009-02-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
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