特征荧光X射线吸收法精确测定基于铍膜的235U裂变靶厚度

摘要：

研究发展了一种基于特征荧光X射线吸收谱的、可精确测量裂变物质质量厚度的方法,系统分析了测量不确定度.实验结果表明,该方法可有效测定基于铍膜的235U裂变靶质量厚度,测量不确定度小于5%,其不确定度主要来源于测量的统计性.

关键词：特征荧光X射线吸收谱、235弱U、裂变材料、质量厚度测量、铍基底

所属期刊栏目：42

分类号：O571.43;O434(原子核物理学、高能物理学)

在线出版日期：2009-02-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：997-1000