样品位置对外束PIXE分析的影响
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

样品位置对外束PIXE分析的影响

引用
通过改变标准样品的前后位置和摆放角度,研究样品位置对外束PIXE分析中Ar、Si、Ca、Fe等元素的特征X射线归一化峰面积的影响,并以此为依据分析外束PIXE对样品定位精度的要求.结果表明:为使由样品位置变化引起的相对误差在5%以内,样品摆放位置需精确到±0.14 mm;为使由样品角度引起的相对误差在5%以内,样品摆放角度需精确到±1°.

外束PIXE、GBW07306水系沉积物标准参考样、位置、误差

42

TL52(加速器)

国家自然科学基金10435020

2008-05-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

67-71

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

原子能科学技术

1000-6931

11-2044/TL

42

2008,42(1)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn