辐射损伤潜径迹的纳米尺度观测研究

摘要：

综述了近年来用扫描隧道显微镜(STM)和扫描力显微镜(SFM)在原子水平上观测辐射损伤潜径迹的研究及进展.详述了辐射损伤潜径迹的形貌、损伤范围、损伤数密度、损伤几率等,对损伤潜径迹直径与能损的关系、损伤过程及各种可能的损伤机制进行了分析和讨论.

关键词：扫描隧道显微镜、扫描力显微镜、辐射损伤潜径迹、损伤参数、损伤机制

所属期刊栏目：36

分类号：O571.33(原子核物理学、高能物理学)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：564-568