微焦点X射线摆动式分层成像中的不完全投影研究

摘要：

在现有微焦点X光辐射成像系统的基础上,提出一种新的摆动式分层成像方法,对狭长形状薄层结构样品进行无损检测,建立计算机仿真模型,验证了使用不完全投影的合理性和高效率,讨论了不完全投影中投影区域的选择原则.实际成像结果表明:分布在最佳投影区域的120°投影可成功地分离出印制电路板不同层次的图像.

关键词：X射线、无损检测、摆动式分层成像术、不完全投影

所属期刊栏目：36

分类号：TL82;TL99(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)

资助基金：国家自然科学基金19705006

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：25-28