10.3969/j.issn.1000-6931.2001.04.014
85 MeV 19F离子辐照α-Al2O3热退火产生的空洞研究
采用正电子湮没寿命技术研究了注量为5.28×1016cm-2的85MeV19F离子辐照后α-Al2O3热退火产生的空洞。实验结果表明:辐照后的α-Al2O3经450℃退火开始出现空洞;550~750℃时,空洞半径达到0.37nm,且其大小不变而浓度则随温度迅速增加;高于800℃,退火温度升高,空洞增大;1050℃退火,形成了半径为1.02nm的空洞。
α-Al2O3、85 MeV19F离子、热退火、空洞、正电子湮没寿命
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O472(半导体物理学)
国家自然科学基金19835050;核工业科学基金H7196BO116
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
363-366