85 MeV 19F离子辐照α-Al2O3热退火产生的空洞研究
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1000-6931.2001.04.014

85 MeV 19F离子辐照α-Al2O3热退火产生的空洞研究

引用
采用正电子湮没寿命技术研究了注量为5.28×1016cm-2的85MeV19F离子辐照后α-Al2O3热退火产生的空洞。实验结果表明:辐照后的α-Al2O3经450℃退火开始出现空洞;550~750℃时,空洞半径达到0.37nm,且其大小不变而浓度则随温度迅速增加;高于800℃,退火温度升高,空洞增大;1050℃退火,形成了半径为1.02nm的空洞。

α-Al2O3、85 MeV19F离子、热退火、空洞、正电子湮没寿命

35

O472(半导体物理学)

国家自然科学基金19835050;核工业科学基金H7196BO116

2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

363-366

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

原子能科学技术

1000-6931

11-2044/TL

35

2001,35(4)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn