用薄靶厚衬底方法测量电子碰撞引起的K壳层电离截面

摘要：

用能谱仪测量特征X射线，从而导出元素钛和钒的K壳层电离截面。为克服制靶困难，实验中采用薄靶厚衬底方法。通过电子输运计算，由厚衬底产生的反射电子对计数的影响得以修正。将结果和Green等的半经验公式以及Jessenberger等的测量数据进行了比较。

关键词：电离截面、薄靶厚衬底、修正方法

所属期刊栏目：35

分类号：O562.4;TL814(分子物理学、原子物理学)

资助基金：教育部科学技术基金99202

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：169-173