质子、氚和α在Ar和Kr中的径迹长度测量与计算

摘要：

用屏栅电离室对α、t和p在Ar与Kr中到达电离密度重心的径迹长度(X)进行了测量,并根据Trim程序和其它文献的阻止本领数据对其进行了计算.理论值与实验结果符合较好.

关键词：屏栅电离室、径迹长度(X)、实验测量、理论计算

所属期刊栏目：33

分类号：TL815;TL811.1(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)

资助基金：中国核工业总公司资助项目;中国核数据中心项目

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：50-55