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10.11684/j.issn.1000-310X.2016.03.004

残余应力对光弹实验中超声图像的干扰分析

引用
动态光弹成像技术是观测固体内部超声应力场的重要手段,然而样品在制作过程中会产生残余应力,给观测带来一定干扰,特别是缺陷附近的应力集中效应,使得缺陷散射声场的研究更为困难.本文利用线性应力理论分析了超声应力与残余应力的相互关系,并推导出该叠加应力场在光弹系统中的光强表达式,通过实验验证,证明了该理论的可行性.本文结果可为应力集中区域的散射声场分析提供借鉴.

残余应力、动态光弹成像系统、线性理论、超声应力

35

O426.3(声学)

国家自然科学基金项目11374325,11427809

2016-09-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共6页

206-211

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应用声学

1000-310X

11-2121/O4

35

2016,35(3)

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