10.3969/j.issn.1000-310X.2005.04.003
以有效值计算的热声键合PZT换能器阻抗分析
在热超声芯片键合过程中,PZT换能器阻抗是键合系统的一个重要的研究参数.本文在提取PZT换能器驱动电信号实部数据的前提下,采用连续加窗的有效统计值计算的广义阻抗表征整个键合周期内的PZT换能器阻抗变化,由此获得键合过程PZT换能器阻抗的动态变化规律.文中详细介绍了PZT换能器阻抗的试验方法,并分析了试验结果.
换能器阻抗、有效值统计、热超声芯片键合工艺
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O429(声学)
国家自然科学基金50390064;国家重点基础研究发展计划973计划2003CB716202
2005-09-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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