云纹干涉法测定1200℃单晶材料弹性模量及泊松比研究

摘要：

通常金属试件表面零厚度光栅在800～1 000℃下就发生氧化和低固溶点金属的溢出,导致试件表面的光栅被完全覆盖,无法继续测量.本文通过特殊的物理方法处理,使试件表面光栅重新显现,从而获得1 200℃下清晰的干涉条纹,成功测试该温度下单晶材料的弹性模量和泊松比.

关键词：云纹干涉、1200℃、弹性模量、泊松比

所属期刊栏目：36

分类号：O348.1(固体力学)

在线出版日期：2016-10-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：434-439