半导体激光器低频噪声测试及参数提取

摘要：

半导体激光器低频电噪声的大小受器件潜在缺陷的影响,与器件可靠性具有相关性.介绍了半导体激光器噪声测试及参数提取的原理,设计了基于超低噪声前置放大器和低频频谱分析仪的低频电噪声测试系统,可测量半导体激光器的低频电噪声并提取相关噪声参数,进而通过低频电噪声的研究对半导体激光器进行可靠性评价,具有灵敏度高、非破坏性等优点.

关键词：半导体激光器、低频电噪声、可靠性

所属期刊栏目：34

分类号：TN248.4(光电子技术、激光技术)

资助基金：国家自然科学基金;国家重大科学仪器设备开发专项

在线出版日期：2014-10-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：355-358