光斑尺寸对光热失调技术测量光学薄膜吸收的影响

摘要：

样品表面加热光斑和探测光斑的大小对光热技术有着重要影响,光热失调技术是一种新的可用于研究光学薄膜的微弱吸收的方法,文章理论分析了加热光斑和探测光斑尺寸对光热失调技术的影响.研究表明,加热光斑大小不变时,加热光调制频率增大,样品表面温升降低,温度分布区域减小；调制频率不变时,加热光斑越小,表面温升越大,分布区域越小.调制频率不变时,探测光斑越小,信号幅值越大,分布区域越小,信号幅值与加热光功率的线性关系的斜率越大,探测光斑的大小对信号幅频关系影响较小.研究结果对光热失调技术测量光学薄膜吸收具有重要意义.

关键词：光学薄膜、吸收、光热、光斑尺寸

所属期刊栏目：31

分类号：O484.4(固体物理学)

资助基金：国家自然科学基金项目资助项目60907041;重庆邮电大学科研基金资助项目A2009-05;重庆市教委科学技术研究项目KJ100510

在线出版日期：2012-05-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：483-488