10.3969/j.issn.1000-372X.2003.03.004
光无源器件温度冲击过程中光功率的实时监测
介绍了光无源器件温度冲击模拟试验中的状态实时监测的一种方法,给出了高低温冲击引起的附加损耗计算公式,并对1×2、2×2两种类型的耦合器进行了实验,分别给出了它们各两路输出光功率变化试验曲线,结果表明:在温差140℃条件下,温度冲击对1×2、2×2耦合器造成的光功率变化幅度最大值分别小于0.5dB、2.0dB.
光无源器件、温度冲击、实时监测、耦合器
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TN6(电子元件、组件)
2003-08-29(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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