10.3969/j.issn.1005-0930.2009.04.017
边界扫描环境下的板级互连测试及其BIST实现
互连测试对于电路板的生产和维护具有重要意义.针对现有互连故障检测BIST(built in selftest)实现方法存在测试时间长、硬件开销大等问题,本文提出了一种改进的BIST结构,并阐述了其各组成部分,即查找表(look-up table,LUT)、测试向量生成器(test pattern generator,TPG)、输出响应分析器(output response analyzer,ORA)的设计过程.该实现方法可在保证高故障检测率的前提下,降低硬件开销,缩短测试时间,同时还可避免多驱动器冲突,使测试能够安全进行.
边界扫描、互连测试、故障检测、内建自测试
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TN407(微电子学、集成电路(IC))
2009-09-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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