基于自适应条纹投影的高反光物体三维面形测量

摘要：

结构光投影方法在三维形貌测量中应用广泛,但是由于被测物体表面反射率变化范围较大,过度曝光会导致相位信息无法获取.而传统的高动态范围扫描技术步骤复杂,耗时较长.文中提出一种自适应条纹投影技术,向待测物体表面投射较高灰度级的条纹图,判断并标记过度曝光点.降低投射强度后通过非线性最小二乘法拟合来确定每个饱和像素点最适合的最大输入灰度,用重新生成的自适应条纹图来采集图像并进行相位计算和三维形貌恢复.通过实验验证,该方法可以对物体表面的高反光区域进行有效测量,避免过度饱和,仿真误差在0.02 mm范围内,实测误差约为0.14 mm,实际实验对过曝点的补偿率可达到99％.

关键词：高反光物体、过度曝光、自适应、条纹投影、三维测量

所属期刊栏目：39

分类号：TP274(自动化技术及设备)

资助基金：国家重点研发计划2017YFF0106404;国家自然科学基金51675160;河北省应用基础研究计划重点基础研究15961701D;河北省高层次人才GCC2014049;河北省人才工程培养经费A201500503

在线出版日期：2018-07-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：373-378