子孔径拼接技术应用的研究
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1002-2082.2008.06.037

子孔径拼接技术应用的研究

引用
大口径光学元件的检测开拓了子孔径拼接应用的新领域.采用小口径干涉仪对大口径被测元件不同区域进行波前检测,然后恢复计算出被测波前.使用光学设计软件ZEMAX对子孔径检测拼接技术进行了模拟,模拟结果表明:波前检测相对误差小于4.3λ‰,实现了对大口径光学元件面形的高精度检测,避免了相同口径检测干涉仪的使用,降低了检测成本及难度.

大口径光学元件、波前检测、子孔径拼接、小口径干涉仪

29

TH706(仪器、仪表)

国家863计划20040301;国防863项目

2009-02-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

1009-1012

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

应用光学

1002-2082

61-1171/O4

29

2008,29(6)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn