CCD致冷技术在小型光谱仪降噪中的应用

摘要：

与传统光谱仪相比,小型光谱仪在性能上存在着较大的差距,光度准确度较差、信噪比低等问题限制了其在弱光检测中的应用.分析小型光谱仪的噪声来源及其抑制方法,结合CCD设计了其致冷结构,并采用半导体致冷技术对自行设计的小型光谱仪进行了降噪处理.测量了不同温度下CCD的暗电流,发现致冷对CCD噪声起到很好的抑制作用;在此基础上,参照分光光度计的国家机械行业标准和计量检定规程,测量了致冷条件下小型光谱仪的光度噪声和基线平直度.结果表明:致冷能有效地提高仪器的性能,实验用小型光谱仪的光度噪声为±0.002 Abs,基线平直度为±0.004 Abs.

关键词：小型光谱仪、半导体致冷技术、CCD、光度噪声、暗电流

所属期刊栏目：29

分类号：TN15-3(真空电子技术)

在线出版日期：2009-02-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：854-858