10.3969/j.issn.1002-2082.2008.03.031
二氧化硅准一维纳米团簇的弯曲振动
运用密度泛函理论,计算了4~24个单元的准一维单链、双链、三元环、四元环管状构型SiO2团簇的振动频率.在不同构型的红外光谱中,侧重研究了频率小于300 cm-1的低频处的弯曲振动.该类振动的频率和强度有很强的尺寸效应,频率与团簇长度呈指数关系,并且指数随直径变化表明它依赖于团簇的几何维数.实验发现此类红外振动只存在于长度0.8 nm~5.5 nm的SiO2团簇中,揭示出实验和理论上可用于表征特定长度范围的纳米团簇.
准一维纳米团簇、红外光谱、尺寸效应、指数关系
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TN304.2(半导体技术)
教育部重点实验室基金LZ015
2008-07-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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