10.3969/j.issn.1002-2082.2008.02.001
酸蚀对微通道板电性能的影响
采用扫描电镜(SEM)、卢瑟福背散射谱(RBS)、原子力显微镜(AFM)、能量色散谱仪(EDS)、照度计、微通道板测试台等分析表征手段,从微通道板皮料玻璃表面的成分、形貌和结构上,研究了酸蚀时间对微通道板电子增益、体电阻、噪声电流和电子图像等电性能的影响.研究结果表明:酸蚀时间显著影响微通道板的电性能,经酸蚀120 min后微通道板的电子增益和图像亮度达到最高值;随着酸蚀时间的增加,噪声电流相应增加,而体电阻降至一定值后保持相对的稳定.
微通道板、酸蚀时间、电性能
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TN223(光电子技术、激光技术)
国家高技术研究发展计划863计划2006AA03A208
2008-05-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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