10.3969/j.issn.1002-2082.2007.04.030
光学薄膜折射率和厚度测试仪检定规程解读
简要介绍光学薄膜折射率和厚度测试仪检定规程的构成,被检测量仪器的技术指标、主要检定参数和检定方法等.该规程适用于光谱椭偏法测量光学薄膜折射率和厚度的仪器,在从事光学薄膜研究、生产和使用的单位具有广泛的应用前景.
检定规程、光学薄膜、厚度测量、折射率测量
28
TN741(基本电子电路)
2007-08-13(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
517-519
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10.3969/j.issn.1002-2082.2007.04.030
检定规程、光学薄膜、厚度测量、折射率测量
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TN741(基本电子电路)
2007-08-13(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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