空间光通信APT技术中CCD多次采样的分析与研究

摘要：

利用CCD器件进行光学检测,普遍采用二值化的脉冲计数法,即每个脉冲都代表了一个像元间距,所以CCD的检测分辨率只能达到像元间距的大小.虽然在光学系统中可以采用增加系统放大倍数的方法来提高CCD的检测分辨率,但是由于成像系统的像差、球差以及衍射效应的存在,光学系统最多只能放大几十倍,因此CCD的检测分辨率只能达到微米量级.为进一步提高CCD的检测分辨率,本文提出了一种全新的方法,即多次采样处理,以此将CCD的分辨率提高到亚像元的精度.经过分析论证以及软件的仿真模拟,证实了该方法的可行性.

关键词：空间光通信、APT、多次采样

所属期刊栏目：25

分类号：TN386.5-34(半导体技术)

在线出版日期：2004-12-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：9-11,21