10.3969/j.issn.1673-7210.2010.04.042
磁敏感成像在弥漫性轴索损伤中的诊断价值
目的:探讨磁敏感成像(SWI)在弥漫性轴索损伤(DAI)中的诊断价值.方法:对我院31例临床高度怀疑脑弥漫性轴索损伤而常规快速自旋回波(TSE)、自旋回波(SE)扫描发现明确异常的患者进行SWI扫描.结果:31例中,经临床及手术病理证实的27例弥漫性轴索损伤均有明确的显示,表现为点状、条状、斑片状、环状、类圆形的低信号影,其中,20例表现为典型的低信号环,9例合并新月形或双凸透镜状硬膜下或硬膜外出血.结论:SWI序列对弥漫性轴索损伤的敏感性高于常规的TSE序列和SE序列.
磁敏感成像、弥漫性轴索损伤、诊断
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R445.2(诊断学)
2010-04-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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