磁共振成像中的伪影(四):硬件相关伪影——静磁场B0相关伪影
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1005-8001.2018.04.018

磁共振成像中的伪影(四):硬件相关伪影——静磁场B0相关伪影

引用
MRI 和MRS 都依赖于均匀的静磁场 B0且假定B0恒定不变. 根据Larmor方程,质子自旋进动频率与静磁场B0成正比,施加成像梯度场引起的频率偏移与自旋空间位置线性相关. B0不均匀性可导致空间失真或图像变形. 对于MRS,B0不均匀性则可导致谱线变宽. 因此匀场对于MRI而言非常重要. 除静磁场B0外,质子自旋还受组织、解剖结构或病理变化感应的内部磁场的影响, 如空气、出血、金属植入物等.

27

2018-10-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

332-335

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

影像诊断与介入放射学

1005-8001

44-1391/R

27

2018,27(4)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn