磁敏感加权成像技术在早产儿脑损伤诊断中的价值
目的:对比和探讨磁敏感加权成像技术( SWI )在早产儿脑损伤诊断中的价值。方法对50例临床拟诊的早产儿脑损伤患者(出生后1周内),行T1 WI、T2 WI、FLAIR、DWI轴位和SWI轴位扫描,评估记录不同序列上的低信号部位、数目和面积。结果50例早产儿中,T1 WI、T2 WI、FLAIR、DWI、SWI发现的病灶数量分别为108、82、123、135、204个, SWI较常规序列更敏感地显示出血灶,差异具有统计学意义。在相同部位显示病变大小范围以SWI最好(0.72±0.58),较T1 WI、T2 WI(0.50±0.48)清晰明显,差异具有统计学意义。结论 SWI较其它序列更容易发现微出血灶,SWI还能探测早产儿脑深部髓静脉管情况,具有其他检查方法不可比拟的优势。
早产儿、微小出血灶、磁共振成像
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R722.15;R445.2(儿科学)
浙江省温州市科技局社会发展科学研究项目Y20130230
2017-01-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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