10.3969/j.issn.1673-8012.2004.04.005
磁性薄膜自发磁化强度的变分累计展开分析
利用变分累计展开方法,分析了Heisenberg磁性薄膜的自发磁化强度到三级累积展开.结果表明:自发磁化强度依赖于薄膜的层数.在某一临界厚度以下,自发磁化强度随薄膜原子层数的减小而迅速减小,其结果与实验数据接近.
Heisenberg薄膜、自发磁化强度、变分累计展开
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O484.5(固体物理学)
重庆市教委资助项目031202
2007-03-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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