10.3321/j.issn:0513-4870.2003.08.014
生长抑素一级结构的电喷雾质谱分析
目的生长抑素的分子量及其一级结构的测定.方法应用电喷雾质谱法(ESI-MS)测定了环肽药物生长抑素的分子量,用2-巯基乙醇将生长抑素的双硫键还原,再用源内碰撞诱导解离技术进行测定,根据其典型碎片离子确证其氨基酸序列.结果测得生长抑素准分子离子峰[M+H]+ m/z 1 637.8, [M+Na]+ m/z 1 659.5及[M+2Na-H]+ m/z 1 681.5,[M+2H]2+ m/z 819.5及[M+H+Na]2+ m/z 830.3,表明生长抑素的分子量为1 636.7,与理论值一致.将双硫键还原后,用CID技术进行测定,得到了一系列y和b系列的特征碎片离子,证实生长抑素还原产物的氨基酸序列为A-G-C-K-N-F-F-W-K-T-F-T-S-C.结论用ESI-MS法测得的生长抑素的分子量及一级结构与理论值相符.
生长抑素、分子量、一级结构、电喷雾质谱
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R917;TQ460.72(药物基础科学)
2003-08-29(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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