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10.3321/j.issn:0513-4870.2000.02.011

博莱霉素在Ni/GC离子注入修饰电极上的电化学行为及其应用

引用
目的:研究博莱霉素在Ni/GC离子注入修饰电极上的电化学行为及其应用.方法:博莱霉素在0.1mol·L-1HAc-NaAc (pH4.62)缓冲溶液中,用离子注入镍的修饰玻碳电极为工作电极进行伏安测定.结果:得到一良好的还原峰,峰电位Ep=-1.16V(vs.SCE).峰电流与博莱霉素浓度在1.0×10-6~1.4×10-5mol·L-1范围内成线性关系.检出限为8.0×10-7mol·L-1.并用于尿样的测定,得到满意的结果.用线性扫描和循环伏安法研究了体系的电化学行为.用奥歇电子能谱(AES)和光电子能谱(XPS)等表面分析技术检测了注入电极表面的元素组成、价态和深度分布,对离子注入电极的催化性质进行了探讨.结论:体系属两电子还原的不可逆过程.

博莱霉素、电化学行为、伏安法、Ni离子注入、修饰电极

35

R9(药学)

中国科学院资助项目29875003;高等学校博士学科点专项科研项目

2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

128-130

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0513-4870

11-2163/R

35

2000,35(2)

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