长期小剂量电离辐射对晶状体损伤的远后效应

摘要：

目的探讨长期小剂量电离辐射对晶状体损伤的远后效应.方法通过对68例(136眼)近30年受小剂量电离辐射晶状体远后效应的观察,并与80例(160眼)相近年龄不接触有害因素人员进行对照.结果对照组与受照组工作人员的晶状体核及皮质浑浊总发生率差异无显著意义(P＞0.05),而受照组晶状体后囊浑浊的发生率高于对照组,差异有非常显著意义(P＜0.01),但与累积剂量大小和工龄未发现平行关系.结论尽管长期小剂量电离辐射对晶状体后囊浑浊改变表现为非特异性变化,与对照组比较有明显差异.

关键词：长期小剂量照射、晶状体损伤、远后效应

所属期刊栏目：26

分类号：R779.11(眼科学)

在线出版日期：2004-08-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：154-155