X-射线荧光元素分析技术对化妆品中汞快速检测的初步探讨

摘要：

目的:研究X-射线荧光元素分析技术快速检测膏状化妆品中汞的检测方法.方法:用一种不含汞的膏状化妆品作为空白基质,配制出一系列含不同浓度汞的标准样品,直接测定,建立膏状基质的标准曲线,再测定多种相似基质的化妆品.结果:汞含量在5～ 100 mg·kg-1范围内线性关系良好,y=1.1297X+0.7091,r=0.9985;精密度试验的RSD(n=6)在4.1％～5.3％范围内;回收率范围在95.5％～105.2％之间;检出限为5 mg·kg-1.结论:本方法适用于基质相似的多种化妆品中汞含量的检测,X-射线荧光元素分析技术可以快速检测膏状化妆品中汞含量.

关键词：X-射线荧光、不同基质、化妆品检测、重金属、快速检测、汞含量测定

所属期刊栏目：34

分类号：R917(药物基础科学)

资助基金：保健食品中违禁物质检测技术研究;中青年基金

在线出版日期：2014-09-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：1470-1474